PRODUCT CLASSIFICATION
產品分類技術文章/ Technical Articles
[新產品]分光輻射計SR-5S新一代SR系列標準機型高速測量高色度精度產品概要本產品為光學結構更新，靈敏度提升及內部系統改良，大幅縮短測量時間的，新一代分光輻射度計的標準機型。此外、采用大熒幕彩色觸控面板，提高使用便利性和測量結果的可視性。本產品對應超低亮度到超高亮度的量程，高感度及高速的新時代分光輻射計。測量角1°量程擴大，對應0.001cd/m2的超低亮度及高達500,000cd/m2超高亮度測量角1°量程擴大，色度精度x:±0.0015、y:±...
分光輻射計SR-5A具HDR，高速，操作性新時代SRseries產品概要本產品對應超低亮度到超高亮度的量程，高感度及高速的新時代分光輻射計。測量角1°量程擴大，對應0.0005cd/m2的超低亮度及高達500,000,000cd/m2超高亮度，在測量超高亮度產品如LED等，不需要外掛ND即可測量。光學結構的更新，感度提升及內部系統改良，大幅縮短測量時間。此外，采用彩色觸控大熒幕，直觀操作，操作性提升。頁面頂部特點?分光測色方式的絕對值精度?對應寬廣動態量程(0.0005～50...
分光輻射計SR-5AS具HDR，高速，操作性新時代SRseries對應量程從0.0001cd/m2起的*高級機型產品概要本產品對應超低亮度到超高亮度的量程，高感度及高速的新時代分光輻射計。在測定角2°時能夠測量低為0.0001cd/m2的超低亮度及高達500,000,000cd/m2超高亮度，在測量超高亮度產品如LED等，不需要外掛ND即可測量。光學結構的更新，感度提升及內部系統改良，大幅縮短測量時間。此外，采用彩色觸控大熒幕，直觀操作，操作性提升。頁面頂部特點?分光測色方式...
特征臺式快速水份測定儀使用近紅外光的反射光在應用光照后幾秒鐘內顯示結果樣品容器高度靈活，可在塑料袋上進行測量通過作主機上的按鍵創建校準曲線規格測量方法近紅外反射，在底平面投射/接收的光光譜學濾波器測量點直徑：約25毫米校準曲線數量50測量速度正常測量：7秒（根據設置）連續測量：0.5秒間隔顯示有機EL輸入/輸出USB（用于PCI/O）、RS-232C（用于打印機輸出）光源鎢絲燈工作濕度范圍5至35°C（無冷凝）/30至80%RH電源100-240伏交流電（50/60Hz），4...
特征強調Basic性能的Basic模型最小水分含量顯示0.01%，重量顯示5mg使用自動去皮減少漂移兩種類型的測量模式：自動和定時規格測量方法通過加熱和干燥檢測重量損失樣品質量1-80g（可選重量采樣格式）分辨率水分含量/固體含量：0.1%或0.01%（可選）0.01%的指示不保證精度。重量：0.005g測量范圍0-100%（濕基，固含量）0-500%（干基）重復性（標準偏差）重量為5g或以上的樣品，0.1%（使用標準樣品和KettElectricLaboratory確定的測...
防冷劑千分尺MDC-PXIP65防護等級標準價格（不含稅）：21,300日元測量范圍（mm）：0~25*小顯示量（mm）：0.001*有關產品的*庫存狀況和交貨日期，請與貿易公司或我們的銷售辦事處聯系。*商品圖片僅用于說明目的?？赡芘c實際產品有所不同。請務必查看產品詳細信息的規格。恒壓裝置：棘輪止動裝置產品型號293-240-30MDC-25PX系列測量范圍（mm）：0～25*小顯示量（mm）：0.001293-241-30MDC-50PX系列測量范圍（mm）：25～50*小...
防冷卻液千分尺MDC-125~300MXIP65防護等級標準價格（不含稅）：42,000日元測量范圍（mm）：100~125最小顯示量（mm）：0.001*有關產品的最新庫存狀況和交貨日期，請與貿易公司或我們的銷售辦事處聯系。*商品圖片僅用于說明目的?？赡芘c實際產品有所不同。請務必查看產品詳細信息的規格。恒壓裝置：棘輪止動裝置帶測量數據輸出功能產品型號293-250-30MDC-125MX測定範囲(mm):100～125最小顯示量（mm）：0.001293-251-30MDC...
TXRF310Fab系列全內反射X射線熒光光譜儀分析痕量從輕元素Na到重元素U的污染物元素采用轉子式高功率X射線發生器和新設計的入射X射線單色器。過渡金屬LLD10采用直接TXRF測量方法8原子/厘米2達到水平。在封閉X射線管測量時間的1/3內即可實現相同的精度，從而實現高通量。詢價詢問有關產品的問題=thumbnailOffset&&index總結長處規范事件描述TXRF310Fab1個靶標、3個光束系統這是一種方法，它使用三種類型的光譜晶體來提取被測元素的最佳單色X射線束...
TXRF3760系列全內反射X射線熒光光譜儀對晶圓表面的污染進行無損、非接觸式和高靈敏度分析轉子式高功率X射線發生器和新設計的入射X射線單色器過渡金屬LLD10采用直接TXRF測量方法8原子/厘米2達到水平。在封閉X射線管測量時間的1/3內即可實現相同的精度，從而實現高通量。詢價詢問有關產品的問題=thumbnailOffset&&index總結長處規范事件TXRF3760概述1個靶標、3個光束系統這是一種方法，它使用三種類型的光譜晶體來提取被測元素的最佳單色X射線束，并將其...
WaferX310系列用于薄膜評估的X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF）可以無損、非接觸式方式同時分析300mm和200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。這是一種波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF），可以無損、非接觸地同時分析300mm和200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。它與GEM300兼容，并支持300mmFab的在線規格。XYθZ驅動式樣品臺（方法）可準確分析各種金屬膜，避免了衍射線的影響。使用4kW高功率X射線管可以測量痕量元素。此外，通過安裝...
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